X-Işını Kırınım

Deney Açıklaması :X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristalin fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristalin faz için bu kırınım profilleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlar. X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar. X-Işını Kırınım cihazıyla kayaçların, kristalin malzemelerin, ince filmlerin ve polimerlerin nitel ve nicel incelemeleri yapılabilir.

Bağlı Olduğu Birim/Bölüm/Laboratuvar : Kimya-Metalurji Fakültesi > Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Bölümü > X-IŞINLARI LABORATUVARI

Turkak Deney Alanı : Enstrümantal Analizler ve İncelemeler

Turkak Uzmanlık Alanı : Metal ve alaşımlardan yapılan ürün ve malzemeler